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品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 環保,化工,電子 |
光譜橢偏儀
橢偏振動光譜
利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶,可以分析薄膜的組成。此外,載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
傅立葉紅外光譜儀FTIR適用
集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動光譜。
光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度,折射率,消光系數以及體材料,單層和多層堆疊膜的相關特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內是不透明的,現在也可以進行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團和分子鏈的走向。
SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應用(FTIR)設計的。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學部件,計算機控制角度計,水平樣品臺,自動準直透鏡,商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400?cm-1 ~6,000?cm-1 (1.7?µm?–?25?µm)光譜范圍內提供了的精度和分辨率。
光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析。應用范圍從介質膜、TCO、半導體膜到有機膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作,另外還提供了FTIR軟件。
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